Object
Title: Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates
Description:
Tytuł nagłówkowy. ; We wzorze ditlenku krzemu cyfra 2 w indeksie dolnym. ; Bibliografia na stronie 77. ; Streszczenie w języku polskim, rosyjskim. ; artykul w: Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77 ; tytul rownolegly: Badania elipsometryczne warstw SiO2 na podkładkach Si ; tytul rownolegly: Èllipsometričeskie issledovaniâ plenok SiO2 na podložkah Si
Publisher:
Place of publication:
Contributor:
Format:
Identifier:
Source:
Zasoby Biblioteki Głównej UMCS
Language:
Relation:
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77
Rights:
Source of sponsorship :
Dofinansowano z programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego
Object collections:
Last modified:
Dec 15, 2020
In our library since:
Dec 15, 2020
Number of object content hits:
10
Number of object content views in PDF format
10
All available object's versions:
http://bc.umcs.pl/publication/38875
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 31/32 (1976/1977)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 33 (1978)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 34/35 (1979/1980)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 36/37 (1981/1982)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 38 (1983)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 39 (1984)
- Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Spis treści Vol. 39 (1984)
- Rozkłady energetyczne jonów helu w jarzeniowym świetle
- Ekstrakcja jonów z plazmy wyładowania jarzeniowego
- Simple Monte Carlo computer procedure for the depth parameters determination of implanted ions in amphous targets
- О pomiarach parametrów funkcji statystycznych stosowanych do opisu szumów w obecności tła aparaturowego
- Termoemisyjne właściwości utlenionego wolframu
- Analogowy analizator widma malej częstości
- O rezonansie cyklotronowym w cienkich warstwach PbS i Bi
- Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 40/41 (1985/1986)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 42 (1987)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 43/44 (1988/1989)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 45 (1990)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica, Vol. 46/47 (1991/1992)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica, Vol. 48 (1993)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 49 (1994)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 50/51 (1995/1996)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 52/53 (1997/1998)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 54 (1999)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 55/56 (2000/2001)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica, Vol. 57 (2002)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 66 (2011)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 67 (2012)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Sklodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 68 (2013)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol.69 (2014)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 70 (2015)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica Vol. 71 (2016)
-
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska, Sectio AAA, Physica. Vol. 31/32 (1976/1977)
| Edition name | Date |
|---|---|
| Kulik M., Zuk J.., Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates | Dec 15, 2020 |
