Title:

Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates

Creator:

Kulik, Mirosław (fizyka). ; Żuk, Jerzy (fizyka).

Subject:

fizyka

Description:

Tytuł nagłówkowy. ; We wzorze ditlenku krzemu cyfra 2 w indeksie dolnym. ; Bibliografia na stronie 77. ; Streszczenie w języku polskim, rosyjskim. ; artykul w: Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77 ; tytul rownolegly: Badania elipsometryczne warstw SiO2 na podkładkach Si ; tytul rownolegly: Èllipsometričeskie issledovaniâ plenok SiO2 na podložkah Si

Publisher:

UMCS

Place of publication:

Lublin

Contributor:

Żuk, Jerzy (fizyka).

Date:

19984

Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Source:

Zasoby Biblioteki Głównej UMCS

Language:

pol

Relation:

Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77

Rights:

domena publiczna

Source of sponsorship :

Dofinansowano z programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego